The study and application of electronic materials has created an increasing demand for sophisticated and reliable techniques for examining and characterizing these materials. This comprehensive book l ...Celý popis
The study and application of electronic materials has created an increasing demand for sophisticated and reliable techniques for examining and characterizing these materials. This comprehensive book looks at the area of x-ray diffraction and the modern techniques available for deployment in research, development, and production. It provides the theoretical and practical background for applying these techniques in scientific and industrial materials characterization. The main aim of the book is to map the theoretical and practical background necessary to the study of single crystal materials by means of high-resolution x-ray diffraction and topography. It combines mathematical formalisms with graphical explanations and hands-on practical advice for interpreting data.
Proč nakupovat na Enbooku?
Velký výběr
Nabízíme miliony knih v angličtině. Od beletrie až po ty nejodborněji odborné.
Poštovné zdarma
Poštovné už od 54 Kč a při objednávce nad 1499 Kč doprava na pobočku Zásilkovny zdarma.
Skvělé ceny
Ceny knih se snažíme držet při zemi a vždy pod cenou doporučovanou vydavatelem, aby si je mohl koupit opravdu každý.
Online podpora
Můžete využít online chatu, emailu nebo nám zatelefonovat.
Osobní přístup
Nejdůležitější je pro nás Vaše spokojenost. Prodáváme knihy, protože je milujeme. Nejsme žádní nadnárodní giganti, ale poctivá česká firma.