Advanced Test Methods for SRAMs

Name: Advanced Test Methods for SRAMs
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781489983145
Price: 2296 CZK
Availability: InStock

Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Autor: Girard, Patrick, PH.

Jazyk:

Vazba: Brožovaná

Vydavatel: Springer-Verlag New York Inc.

Dostupnost: Skladem u dodavatele

Odesíláme za 5-8 dnů

2 296 Kč

Valuable testing and diagnostic methods for the latest generation of static random access memory (SR...

Informace o knize

Autor

Girard, Patrick, PH.

Jazyk

Angličtina

Vazba

Kniha - Brožovaná

Vydáno

2014

Stránek

171

EAN

9781489983145

ISBN

9781489983145

Enbook ID

09062252

Vydavatel

Springer-Verlag New York Inc.

Hmotnost

297

Rozměry

155 x 235 x 235

Kompletní popis

Valuable testing and diagnostic methods for the latest generation of static random access memory (SRAM), are presented in this comprehensive guide. New fault models are required for the latest very deep sub-micron (VDSM) technologies, and are outlined here.§

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Advanced Test Methods for SRAMs

Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Informace o knize

Kompletní popis

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také