Advances in X-Ray Analysis

Name: Advances in X-Ray Analysis
Brand: Springer, Berlin
SKU: 9780306442490
Price: 2187 CZK
Availability: InStock

Volume 35B

Autor: C.S. Barrett, John V. Gilfrich, Ting C. Huang, Ron Jenkins

Jazyk:

Vazba: Pevná

Vydavatel: Springer, Berlin

Dostupnost: Skladem u dodavatele

Odesíláme za 10-18 dnů

2 187 Kč

The proceedings of the combined First Pacific-International Congress on X-Ray Analytical Methods (PI...

Informace o knize

Autor

C.S. Barrett, John V. Gilfrich, Ting C. Huang, Ron Jenkins

Jazyk

Angličtina

Vazba

Kniha - Pevná

Vydáno

2012

Stránek

640

EAN

9780306442490

Enbook ID

01377984

Vydavatel

Springer, Berlin

Hmotnost

2760

Rozměry

175 x 250 x 41

Kompletní popis

The proceedings of the combined First Pacific-International Congress on X-Ray Analytical Methods (PICXAM) and Fortieth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, held in Hilo and Honolulu Hawaii, August 1991, comprise reports on the latest develo

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Advances in X-Ray Analysis

Volume 35B

Informace o knize

Kompletní popis

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také