Kniha Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2 Samuel H. Cohen

Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2

Jazyk: Angličtina
Vazba: Brožovaná
Dostupnost: Skladem u dodavatele
Odesíláme za 5-8 dnů
3 426
Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994

Informace o knize

Jazyk
Angličtina
Vazba
Kniha - Brožovaná
Vydáno
2013
Stránek
250
EAN
9781475793277
ISBN
1475793278
Enbook ID
02254276
Hmotnost
507
Rozměry
178 x 254 x 15

Kompletní popis

Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994

Mohlo by vás zajímat

Giant Otter

Jessica Groenendijk
880
2 635

The Green Witch

Arin Murphy-Hiscock
268

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také

Pakiet 100 lat sztuki polskiej

Stefania Krzysztofowicz-Kozakowska
931
2 332
592