Atomic Force Microscopy - Understanding Basic Modes and Advanced Applications

Name: Atomic Force Microscopy - Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Brand: John Wiley & Sons Inc
SKU: 9780470638828
Price: 3621 CZK
Availability: InStock

Autor: Greg Haugstad

Jazyk:

Vazba: Pevná

Vydavatel: John Wiley & Sons Inc

Dostupnost: Skladem u dodavatele

Odesíláme za 9-15 dnů

3 621 Kč

This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface for...

Informace o knize

Autor

Greg Haugstad

Jazyk

Angličtina

Vazba

Kniha - Pevná

Vydáno

2012

Stránek

496

EAN

9780470638828

ISBN

0470638826

Enbook ID

01388618

Vydavatel

John Wiley & Sons Inc

Hmotnost

850

Rozměry

155 x 243 x 32

Kompletní popis

This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions.§"Supplementary material for this book can be found by entering ISBN 9780470638828 on booksupport.wiley.com"

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Atomic Force Microscopy - Understanding Basic Modes and Advanced Applications

Informace o knize

Kompletní popis

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také