Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

Name: Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781441932990
Price: 3426 CZK
Availability: InStock

Autor: Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey, Cedric J. Powell

Jazyk:

Vazba: Brožovaná

Vydavatel: Springer-Verlag New York Inc.

Dostupnost: Skladem u dodavatele

Odesíláme za 5-8 dnů

3 426 Kč

Written as a tutorial guide for newcomers to the field of surface analysis, this work is the first b...

Informace o knize

Autor

Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey, Cedric J. Powell

Jazyk

Angličtina

Vazba

Kniha - Brožovaná

Vydáno

2010

Stránek

430

EAN

9781441932990

ISBN

1441932992

Enbook ID

01421940

Vydavatel

Springer-Verlag New York Inc.

Hmotnost

1390

Rozměry

152 x 229 x 25

Kompletní popis

Written as a tutorial guide for newcomers to the field of surface analysis, this work is the first book ever published to feature photon, electron, and ion beam effects and beam damage to solids during surface and near-surface analysis and depth profiling. This introductory text describes the principles, techniques, and methods vital for efficient surface analysis. A wealth of practical information is assembled in this single volume, including summary tables, extensive references, and 251 illustrative figures.

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis

Informace o knize

Kompletní popis

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také