Charged Semiconductor Defects

Name: Charged Semiconductor Defects
Brand: Springer London Ltd
SKU: 9781849968201
Price: 3426 CZK
Availability: InStock

Structure, Thermodynamics and Diffusion

Autor: Edmund G. Seebauer, Meredith C. Kratzer

Jazyk:

Vazba: Brožovaná

Vydavatel: Springer London Ltd

Dostupnost: Skladem u dodavatele

Odesíláme za 5-8 dnů

3 426 Kč

"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties...

Informace o knize

Autor

Edmund G. Seebauer, Meredith C. Kratzer

Jazyk

Angličtina

Vazba

Kniha - Brožovaná

Vydáno

2010

Stránek

298

EAN

9781849968201

ISBN

1849968209

Enbook ID

01434720

Vydavatel

Springer London Ltd

Hmotnost

474

Rozměry

155 x 235 x 17

Kompletní popis

"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Charged Semiconductor Defects

Structure, Thermodynamics and Diffusion

Informace o knize

Kompletní popis

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také