Více než 4 miliony titulů v angličtině i dalších jazycích! Objevte svůj nový příběh ještě dnes!

Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy

Name: Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy
Brand: John Wiley & Sons Inc
SKU: 9781118456095
Price: 3035 CZK
Availability: InStock

Autor: Budhika Mendis

Jazyk:

Vazba: Pevná

Vydavatel: John Wiley & Sons Inc

Dostupnost: 50 % šance

Prohledáme celý svět

3 035 Kč

A detailed presentation of the physics of electron beam-specimen interactions Electron microscopy is...

Informace o knize

Autor

Budhika Mendis

Jazyk

Angličtina

Vazba

Kniha - Pevná

Vydáno

2018

Stránek

296

EAN

9781118456095

ISBN

9781118456095

Enbook ID

18210542

Vydavatel

John Wiley & Sons Inc

Hmotnost

610

Rozměry

160 x 238 x 18

Kompletní popis

A detailed presentation of the physics of electron beam-specimen interactions Electron microscopy is one of the most widely used characterisation techniques in materials science, physics, chemistry, and the life sciences.