High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability

Name: High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781441999757
Price: 2234 CZK
Availability: InStock

Autor: Stephan Eggersglüß, Rolf Drechsler

Jazyk:

Vazba: Pevná

Vydavatel: Springer-Verlag New York Inc.

Dostupnost: Skladem u dodavatele

Odesíláme za 10-13 dnů

2 234 Kč

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel tech...

Informace o knize

Autor

Stephan Eggersglüß, Rolf Drechsler

Jazyk

Angličtina

Vazba

Kniha - Pevná

Vydáno

2011

Stránek

193

EAN

9781441999757

ISBN

1441999752

Enbook ID

01424651

Vydavatel

Springer-Verlag New York Inc.

Hmotnost

488

Rozměry

155 x 235 x 15

Kompletní popis

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability

Informace o knize

Kompletní popis

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také