Kniha Interfacial Compatibility in Microelectronics Tomi Laurila

Interfacial Compatibility in Microelectronics

Moving Away from the Trial and Error Approach

Jazyk: Angličtina
Vazba: Brožovaná
Vydavatel: Springer London Ltd
Dostupnost: Skladem u dodavatele
Odesíláme za 5-8 dnů
3 426
This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teach...

Informace o knize

Jazyk
Angličtina
Vazba
Kniha - Brožovaná
Vydáno
2014
Stránek
218
EAN
9781447160687
ISBN
1447160681
Enbook ID
02481545
Hmotnost
355
Rozměry
155 x 235 x 13

Kompletní popis

This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials.§

Mohlo by vás zajímat

347

Bone Key

Les Standiford
391

Parade

Donald Crews
170
444
4 690
299
312
1 593

Iron and Magic

Ilona Andrews
351

Voyager

Marty Cellio
654
1 953
2 297
2 790
982

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také

236
609
513
1 571