Kelvin Probe Force Microscopy

Name: Kelvin Probe Force Microscopy
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 9783642271137
Price: 2286 CZK
Availability: InStock

Measuring and Compensating Electrostatic Forces

Autor: Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel

Jazyk:

Vazba: Brožovaná

Vydavatel: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Dostupnost: Skladem u dodavatele

Odesíláme za 5-8 dnů

2 286 Kč

This volume presents a concise introduction to Kelvin probe force microscopy. The text discusses pot...

Informace o knize

Autor

Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel

Jazyk

Angličtina

Vazba

Kniha - Brožovaná

Vydáno

2013

Stránek

334

EAN

9783642271137

ISBN

3642271138

Enbook ID

02255881

Vydavatel

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Hmotnost

554

Rozměry

156 x 236 x 23

Kompletní popis

This volume presents a concise introduction to Kelvin probe force microscopy. The text discusses potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials.§

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Kelvin Probe Force Microscopy

Measuring and Compensating Electrostatic Forces

Informace o knize

Kompletní popis

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také