Kniha Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309 Kenneth P. Rodbell

Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309

Jazyk: Angličtina
Vazba: Brožovaná
Dostupnost: Skladem u dodavatele
Odesíláme za 9-15 dnů
855
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for research...

Informace o knize

Jazyk
Angličtina
Vazba
Kniha - Brožovaná
Vydáno
2014
Stránek
514
EAN
9781107409484
ISBN
1107409489
Enbook ID
02439136
Hmotnost
68
Rozměry
152 x 229 x 26

Kompletní popis

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Mohlo by vás zajímat

Nemesis at Potsdam

Alfred M. de Zayas
1 063

Nietzsche in Turin

Jurgen Kleist
189
2 136

Flight Path

Hannah Palmer
299

1820

Malcolm Chase
2 233

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také

592

La vida secreta de les pupes

MARIONA TOLOSA SISTERE
446

Lovec

Arne Dahl
492
566
262

Griezmann

Cyril Collot
381