Více než 4 miliony titulů v angličtině i dalších jazycích! Objevte svůj nový příběh ještě dnes!

Materials Reliability in Microelectronics IV: Volume 338

Name: Materials Reliability in Microelectronics IV: Volume 338
Brand: Materials Research Society
SKU: 9781558992382
Price: 625 CZK
Availability: PreOrder

Autor: Peter BJohn C. CoburnWilliam F. FilterJohn E. Sanchez, Jr.

Jazyk:

Vazba: Pevná

Vydavatel: Materials Research Society

Dostupnost: Očekávaný dotisk

Termín neznámý

625 Kč

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for research...

Informace o knize

Autor

Peter BJohn C. CoburnWilliam F. FilterJohn E. Sanchez, Jr.

Jazyk

Angličtina

Vazba

Kniha - Pevná

Vydáno

1994

Stránek

629

EAN

9781558992382

ISBN

1558992383

Enbook ID

02060018

Vydavatel

Materials Research Society

Hmotnost

1045

Rozměry

160 x 231 x 38

Kompletní popis

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Materials Reliability in Microelectronics IV: Volume 338

Informace o knize

Kompletní popis

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také