Materials Reliability Issues in Microelectronics: Volume 225

Name: Materials Reliability Issues in Microelectronics: Volume 225
Brand: Materials Research Society
SKU: 9781558991194
Price: 828 CZK
Availability: PreOrder

Autor: James R. LloydFrederick G. YostPaul S. Ho

Jazyk:

Vazba: Pevná

Vydavatel: Materials Research Society

Dostupnost: Očekávaný dotisk

Termín neznámý

828 Kč

With the increased complexity of modern integrated circuits, it is important that reliability proble...

Informace o knize

Autor

James R. LloydFrederick G. YostPaul S. Ho

Jazyk

Angličtina

Vazba

Kniha - Pevná

Vydáno

1991

Stránek

382

EAN

9781558991194

ISBN

1558991190

Enbook ID

02059930

Vydavatel

Materials Research Society

Hmotnost

700

Rozměry

155 x 235 x 25

Kompletní popis

With the increased complexity of modern integrated circuits, it is important that reliability problems be attacked properly with the appropriate tools. This volume recognizes that almost all reliability problems are materials problems, and helps to put 'reliabilty physics' on a firm scientific foundation. Topics include: electromigration; stress effects on reliability; stress and packaging; metallization; device, oxide and dielectric reliability; new investigative techniques; corrosion.

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Materials Reliability Issues in Microelectronics: Volume 225

Informace o knize

Kompletní popis

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také