Více než 4 miliony titulů v angličtině i dalších jazycích! Objevte svůj nový příběh ještě dnes!

Microelectronic Test Structures for CMOS Technology

Name: Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781441993762
Price: 4016 CZK
Availability: InStock

Autor: Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen

Jazyk:

Vazba: Pevná

Vydavatel: Springer-Verlag New York Inc.

Dostupnost: Skladem u dodavatele

Odesíláme za 10-13 dnů

4 016 Kč

Test structures are becoming more important in the development of CMOS technologies. Covering the ba...

Informace o knize

Autor

Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen

Jazyk

Angličtina

Vazba

Kniha - Pevná

Vydáno

2011

Stránek

373

EAN

9781441993762

ISBN

1441993762

Enbook ID

01424507

Vydavatel

Springer-Verlag New York Inc.

Hmotnost

776

Rozměry

155 x 235 x 27

Kompletní popis

Test structures are becoming more important in the development of CMOS technologies. Covering the basic concepts in test structure design for dedicated test vehicles, the book also examines high-speed characterization techniques for digital CMOS applications.