MOS Interface Physics, Process and Characterization

Name: MOS Interface Physics, Process and Characterization
Brand: Taylor & Francis Ltd
SKU: 9781032106281
Price: 1618 CZK
Availability: InStock

Autor: Shengkai Wang, Xiaolei Wang

Jazyk:

Vazba: Brožovaná

Vydavatel: Taylor & Francis Ltd

Dostupnost: Skladem u dodavatele

Odesíláme za 9-15 dnů

1 618 Kč

The electronic device based on Metal Oxide Semiconductor (MOS) structure is the most important compo...

Informace o knize

Autor

Shengkai Wang, Xiaolei Wang

Jazyk

Angličtina

Vazba

Kniha - Brožovaná

Vydáno

2024

Stránek

162

EAN

9781032106281

Enbook ID

44702474

Vydavatel

Taylor & Francis Ltd

Hmotnost

453

Rozměry

152 x 229

Kompletní popis

The electronic device based on Metal Oxide Semiconductor (MOS) structure is the most important component of a large-scale integrated circuit and the key to achieving high performance devices. This book contains experimental examples focusing on MOS and will be a reference for academics and postgraduates in the field of microelectronics.

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

MOS Interface Physics, Process and Characterization

Informace o knize

Kompletní popis

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také