Nanometer Technology Designs

Name: Nanometer Technology Designs
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781441945594
Price: 2286 CZK
Availability: InStock

High-Quality Delay Tests

Autor: Nisar Ahmed

Jazyk:

Vazba: Brožovaná

Vydavatel: Springer-Verlag New York Inc.

Dostupnost: Skladem u dodavatele

Odesíláme za 5-8 dnů

2 286 Kč

Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new c...

Informace o knize

Autor

Nisar Ahmed

Jazyk

Angličtina

Vazba

Kniha - Brožovaná

Vydáno

2011

Stránek

281

EAN

9781441945594

ISBN

1441945598

Enbook ID

01423022

Vydavatel

Springer-Verlag New York Inc.

Hmotnost

462

Rozměry

155 x 235 x 15

Kompletní popis

Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new challenges. Supply noise effects on chip performance, high test pattern volume, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges. This book discusses these challenges in detail and proposes new techniques and methodologies to improve the overall quality of the transition fault test.

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Nanometer Technology Designs

High-Quality Delay Tests

Informace o knize

Kompletní popis

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také