Noncontact Atomic Force Microscopy

Name: Noncontact Atomic Force Microscopy
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 9783642627729
Price: 4566 CZK
Availability: InStock

Autor: E. Meyer, S. Morita, Roland Wiesendanger

Jazyk:

Vazba: Brožovaná

Vydavatel: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Dostupnost: Skladem u dodavatele

Odesíláme za 5-8 dnů

4 566 Kč

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based...

Informace o knize

Autor

E. Meyer, S. Morita, Roland Wiesendanger

Jazyk

Angličtina

Vazba

Kniha - Brožovaná

Vydáno

2012

Stránek

440

EAN

9783642627729

ISBN

9783642627729

Enbook ID

06617965

Vydavatel

Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Hmotnost

692

Rozměry

155 x 235 x 25

Kompletní popis

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues.

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Noncontact Atomic Force Microscopy

Informace o knize

Kompletní popis

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také