Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Name: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781461349693
Price: 2130 CZK
Availability: InStock

Third Edition

Autor: Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Charles E. Lyman

Jazyk:

Vazba: Brožovaná

Vydavatel: Springer-Verlag New York Inc.

Dostupnost: Skladem u dodavatele

Odesíláme za 10-18 dnů

2 130 Kč

An ideal text for students as well as practitioners, this is a comprehensive introduction to the fie...

Informace o knize

Autor

Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Charles E. Lyman

Jazyk

Angličtina

Vazba

Kniha - Brožovaná

Vydáno

2013

Stránek

689

EAN

9781461349693

ISBN

1461349699

Enbook ID

02174794

Vydavatel

Springer-Verlag New York Inc.

Hmotnost

1310

Rozměry

255 x 182 x 43

Kompletní popis

An ideal text for students as well as practitioners, this is a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described.§

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Third Edition

Informace o knize

Kompletní popis

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také