Kniha Semiconductor Characterization Techniques

Semiconductor Characterization Techniques

Jazyk: Angličtina
Vazba: Brožovaná
Vydavatel: OmniScriptum
Dostupnost: Skladem u dodavatele
Odesíláme za 8-11 dnů
2 671

Informace o knize

Jazyk
Angličtina
Vazba
Kniha - Brožovaná
Vydáno
2026
Stránek
72
EAN
9786138759232
ISBN
6138759230
Enbook ID
52733908
Vydavatel
Hmotnost
125
Rozměry
150 x 220 x 5

Kompletní popis