Kniha Software Defect and Operational Profile Modeling, 1 ai-Yuan Cai

Software Defect and Operational Profile Modeling, 1

Autor: ai-Yuan Cai
Jazyk: Angličtina
Vazba: Brožovaná
Vydavatel: Springer, Berlin
Dostupnost: Skladem u dodavatele v malém množství
Odesíláme za 13-18 dnů
5 079
also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE , Volu...

Informace o knize

Autor
Jazyk
Angličtina
Vazba
Kniha - Brožovaná
Vydáno
2012
Stránek
268
EAN
9781461375593
ISBN
1461375592
Enbook ID
02016492
Vydavatel
Hmotnost
450
Rozměry
155 x 235 x 15

Kompletní popis

also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE , Volume 1

Mohlo by vás zajímat

1 143

Fight to Finish

Calandra Wise
351
253
308

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také

Schnee

Alexander Lange Kielland
494