Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry - A User's Guide

Name: Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry - A User's Guide
Brand: John Wiley & Sons Inc
SKU: 9780471181729
Price: 4113 CZK
Availability: InStock

Autor: Harland G. Tompkins, William A. McGahan

Jazyk:

Vazba: Pevná

Vydavatel: John Wiley & Sons Inc

Dostupnost: Skladem u dodavatele

Odesíláme za 10-18 dnů

4 113 Kč

While single wave ellipsometry has been around for years, spectroscopic ellipsometry is fast becomin...

Informace o knize

Autor

Harland G. Tompkins, William A. McGahan

Jazyk

Angličtina

Vazba

Kniha - Pevná

Vydáno

1999

Stránek

248

EAN

9780471181729

ISBN

0471181722

Enbook ID

04888238

Vydavatel

John Wiley & Sons Inc

Hmotnost

516

Rozměry

237 x 163 x 19

Kompletní popis

While single wave ellipsometry has been around for years, spectroscopic ellipsometry is fast becoming the method of choice for measuring the thickness and optical properties of thin films. This book provides the first practical introduction to spectroscopic ellipsometry and the related techniques of reflectometry. A guide for practitioners and researchers in a variety of disciplines, it addresses a broad range of applications in physics, chemistry, electrical engineering, and materials science.

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry - A User's Guide

Informace o knize

Kompletní popis

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také