Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

Name: Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781441982964
Price: 2234 CZK
Availability: InStock

Autor: Mohammad Tehranipoor, Ke Peng, Krishnendu Chakrabarty

Jazyk:

Vazba: Pevná

Vydavatel: Springer-Verlag New York Inc.

Dostupnost: Skladem u dodavatele

Odesíláme za 10-13 dnů

2 234 Kč

This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrat...

Informace o knize

Autor

Mohammad Tehranipoor, Ke Peng, Krishnendu Chakrabarty

Jazyk

Angličtina

Vazba

Kniha - Pevná

Vydáno

2011

Stránek

212

EAN

9781441982964

ISBN

1441982965

Enbook ID

01424413

Vydavatel

Springer-Verlag New York Inc.

Hmotnost

518

Rozměry

155 x 235 x 17

Kompletní popis

This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

Informace o knize

Kompletní popis

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také