Thermal Testing of Integrated Circuits

Name: Thermal Testing of Integrated Circuits
Brand: Springer-Verlag New York Inc.
SKU: 9781402070761
Price: 2417 CZK
Availability: InStock

Autor: Antonio Rubio

Jazyk:

Vazba: Pevná

Vydavatel: Springer-Verlag New York Inc.

Dostupnost: Skladem u dodavatele

Odesíláme za 10-13 dnů

2 417 Kč

Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric sy...

Informace o knize

Autor

Antonio Rubio

Jazyk

Angličtina

Vazba

Kniha - Pevná

Vydáno

2002

Stránek

204

EAN

9781402070761

ISBN

9781402070761

Enbook ID

08348631

Vydavatel

Springer-Verlag New York Inc.

Hmotnost

547

Rozměry

160 x 240 x 18

Kompletní popis

Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. Abnormal status of this variable, both too high and too low, is sign of abnormal behavior in electronic systems. This title presents the feasibility to consider temperature as an observable for testing purposes.

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Thermal Testing of Integrated Circuits

Informace o knize

Kompletní popis

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také