Kniha VLSI Design and Test for Systems Dependability SHOJIRO ASAI

VLSI Design and Test for Systems Dependability

Autor: SHOJIRO ASAI
Jazyk: Angličtina
Vazba: Brožovaná
Dostupnost: Skladem u dodavatele
Odesíláme za 5-8 dnů
5 251
This book discusses the new roles that the VLSI (very-large-scale integration of semiconductor circu...

Informace o knize

Autor
Jazyk
Angličtina
Vazba
Kniha - Brožovaná
Vydáno
2019
Stránek
800
EAN
9784431568636
ISBN
4431568638
Enbook ID
21352023
Hmotnost
1234
Rozměry
155 x 235 x 44

Kompletní popis

This book discusses the new roles that the VLSI (very-large-scale integration of semiconductor circuits) is taking for the safe, secure, and dependable design and operation of electronic systems.The book consists of three parts. Part I, as a gene

Mohlo by vás zajímat

The Gods of Mars

Edgar Rice Burroughs
243

Obey!

Justus Roux
290
1 903
782
664

Parenting Toward the Kingdom

Mamalakis Philip Mamalakis
339
1 231
1 607
1 362
686
2 981

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také

Hautkrankheiten

Alexander Rost
1 178
456
514

poeta de Jesus

JOS JIM NEZ OCHOA
676
809

Bad boy's

BLAIR HOLDEN
503
1 252
806