X-Ray Optics and Microanalysis

Name: X-Ray Optics and Microanalysis
Brand: Springer, Berlin
SKU: 9780735407640
Price: 2795 CZK
Availability: InStock

Proceedings of the 20th International Congress

Autor: Melissa A. Denecke, Clive T. Walker

Jazyk:

Vazba: Pevná

Vydavatel: Springer, Berlin

Dostupnost: 50 % šance

Prohledáme celý svět

2 795 Kč

ICXOM Series is a platform dedicated for reporting progress in fundamental and applied research in x...

Informace o knize

Autor

Melissa A. Denecke, Clive T. Walker

Jazyk

Angličtina

Vazba

Kniha - Pevná

Vydáno

2010

Stránek

228

EAN

9780735407640

ISBN

0735407649

Enbook ID

01391302

Vydavatel

Springer, Berlin

Hmotnost

782

Rozměry

222 x 285 x 20

Kompletní popis

ICXOM Series is a platform dedicated for reporting progress in fundamental and applied research in x-ray optics and micro- and nano-analysis by means of x-ray beams (with an ICXOM20 emphasis on synchrotron sources), electrons or other energetic particles, including application examples, as well as methodological and instrumental developments.

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

Nejčastěji hledané

Categories

Authors

Publishers

Produkty

Produkty

X-Ray Optics and Microanalysis

Proceedings of the 20th International Congress

Informace o knize

Kompletní popis

Mohlo by vás zajímat

Zákaznicí kteří koupili tuto knihu koupili také